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X熒光鍍層測厚儀是工業和科研使用廣泛的測厚儀器

  • 發布日期:2020-10-23      瀏覽次數:51
    •   X熒光鍍層測厚儀已成為加工工業、表麵工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段,為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
        X射線是無接觸無損測量,測量範圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量。隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術後,采用測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步,測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。
        它適用範圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器,是能譜分析方法,屬於物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發後會發射出各自特征的X射線,不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線後,將其光信號變為模擬信號,經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號並送入計算機進行處理,計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息,通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的各類及各元素的鍍層厚度。
        X熒光鍍層測厚儀擁有超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界麵,易於使用,一鍵操作,即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結,有助於識別鍍層成分的創新型功能,機身結構小巧結實,外形十分漂亮,分析儀測試數據可以下載和上傳網絡,檢測結果易於查看和分享,有X射線防護鎖,隻有在封閉狀態下才發射X射線,安全、可靠的保證客戶使用。

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